辐照计
一、产品介绍
UV-A型双通道紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
二、产品参数
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项目 |
参数(双通道) |
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波长范围λ1,峰值波长λp |
(320~400)nm,λP=365nm |
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波长范围λ2,峰值波长λp |
(375~475)nm,λP=420nm |
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辐照度测量范围 |
(0.1~199.9×103) μW/cm2 |
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紫外带外区杂光 |
0.02% |
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相对示值误差 |
±8%(相对于NIM标准) |
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角度响应特性 |
±5% (α≤10°) |
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线性误差 |
±1% |
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换档误差 |
±1% |
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短期不稳定性 |
±1%(开机30min后) |
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疲劳特性 |
衰减量<2% |
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零值误差 |
满量程的±1% |
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响应时间 |
<1秒 |
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使用环境 |
温度(0~40)℃;湿度<85%RH |
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尺寸和重量 |
160mm×78mm×43mm;0.2kg |
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电源 |
6F22型9V积层电池(非充电电池) |
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整机功耗 |
<0.1VA |
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配置 |
主机、360探头、420探头、探头盖2个、数据线、说明书、合格证、9V电池等 |
三、产品特点
?光谱及角度特性经严格校正
?数字液晶显示,带背光
?手动/自动量程切换
?数字输出接口(USB,冗余供电)
?低电量提醒
?自动延时关机
?有数字保持
?轻触按键操作,蜂鸣提示
?双通道紫外辐照计双探头使用更多不同光波范围的测试
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